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摘要:這篇文章介紹一些簡單的方法,用來確認Zemax OpticStudio如何計算這些公差Criterion。當使用者不太確定某個Criterion是怎麼來的時候,這些技巧會非常有用。 簡介 Zemax OpticStudio在公差分析方面有完整的功能,過程也有清楚的數學說明,但與公差分析的目標相比 (最終要知道良率或敏感度),其執行過程卻有龐大的細節。 這篇文章將整理幾個常用的確認細節的方法,不同的情境有不同的方法,我們共有以下主題: 1. 當我們說 “計算Criterion” 時,Zemax OpticStudio做了什麼 2. 簡介Criterion種類 3. 說明Diff. MTF Avg./Tan./Sag.的計算方式 4. 使用 “SAVE” 公差指令紀錄Sensitivity計算過程 5. 利用Monte Carlo存檔瞭解公差擾動如何被執行 6. 如何表列所有Monte Carlo檔案的亂數參數 在繼續往下閱讀之前,建議閱讀者可以先閱讀此知識庫中相關的基礎公差分析文章,例如下面幾篇文章: How to perform a sequential tolerance analysis How to analyze your tolerance results 當我們說 “計算Criterion” 時,Zemax OpticStudio做了什麼 以下的敘述主要關乎Criterion的計算,不管我們是做Sensitivity分析或是Monte Carlo分析,都適用。 Criterion 首先我們要花一點時間說明Criterion本身,才說明優化等其他動作。在公差分析時,我們所做的事情,就是重複擾動指定參數 (例如元件偏心、傾斜),並計算在該條件下的 “Criterion” 是多少,並與原始設計或格相比分析。 這個Criterion可以是易懂的物理參數,例如某個視場 (Field)、某個波長下的Spot Radius或Tangential MTF。也可以是多個相似的參數用某種方式平均,例如Tangential MTF與Sagittal MTF的平均,或是多個視場下的MTF平均 (通常是RMS)。甚至Criterion可以是經由複雜計算而來,不具實際物理意義。OpticStudio中有許多內建的Criterion,也提供完整的自訂功能讓使用者設計自訂Crit

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