
2023年10月11日
1 ツール、機能及び利便性
1.1 STAR: ダイレクト屈折率フィッティング (Enterprise エディション)
屈折率データセットを直接読み込むことによる、OpticStudio ワークフロー機能の拡張
Ansys Zemax OpticStudio 2023 R2.02 では STAR タブにいくつかの変更があります。これらの変更点はこの新機能をサポートするためのものや、Ansys Zemax OpticStudio Enterprise の STAR ツールでサポートされるワークフローの種類が増加したことを正しく表現するためのものです。

全般的に、ユーザーインターフェイスとヘルプファイルの用語を "FEA "から "Multiphysics (マルチフィジックス)"に更新することが変更の中心です。STAR ツールが導入された当初、ユーザーは Ansys Mechanical のような FEA シミュレーションツールから構造変形や熱プロファイルのデータセットを取得し、OpticStudio にロードするワークフローを想定していました。入力されたデータを FEA データセットと呼ぶことは、OpticStudio のツールの機能の範囲を正確に表現していたため、正しい用語でした。
しかし、Ansys Zemax OpticStudio 2023 R2 では、ZOS-API を使用して、任意のツールから OpticStudio にダイレクトに屈折率データセットをロードする機能が追加されました。これらのダイレクト屈折率フィッティング機能は、ユーザーインターフェイスでも利用できるようになりました。これらの機能により、Ansys Fluent のような数値流体力学(CFD)ツールなど、FEA シミュレーションツールの枠を超えたワークフローをサポートすることができるようになったため、それに合わせて表現も変わりました。
1.2 PanDao へのエクスポートの改善 (すべてのエディション)
光学系に最適な製造チェーンの決定がより簡単に
sPanDao へのエクスポート] (Export to PanDao) ツールは、光学部品の製造に関連する、より多くの利用可能な情報を取得できるようになりました。この情報には、クリアアパチャーや厚みなどのレンズデータエディタ上のパラメータや、パワー、ティルト、偏芯などの公差解析データエディタで設定される情報、さらに面に対するイレギュラリティ公差や非球面度などが含まれます。ユーザーはシステム内のどの光学部品をエクスポートするかを選択でき、ログ情報はエクスポートウィンドウに表示されます。

;PanDaoへのエクスポート] (Export to PanDao) ツールは軸上光学系の以下の面タイプに対応しています。
- 標準面] (Standard)
- 偶数次非球面] (Even Asphere)
- 拡張偶数次非球面] (Extended Asphere)
- 奇数次非球面] (Odd Asphere)
- >拡張奇数次非球面] (Extended Odd Asphere)
- Qタイプ非球面] (Q-type Asphere) タイプ 0
- Qタイプ非球面] (Q-type Asphere) タイプ1
透過面、反射面両方をサポートしています。
1.3 ユーザー定義複屈折 DLL (すべてのエディション)
屈折率勾配のある複屈折材料における位置 x、y、z の関数として結晶軸をカスタマイズ
OpticStudio に組み込まれている8つの方程式で十分でない場合、ユーザーは複屈折結晶の結晶軸の 3D 変化を記述するための特定の方程式を定義する DLL を作成することができます。この機能の典型的な使用例である液晶レンズのモデリングに加え、この DLL インターフェースによって、光学系に屈折率勾配を持つ複屈折材料を持つような、例えば結晶軸が (x, y, z) の位置の関数である場合、シーケンシャルモデルで使用できます。
カスタマイズされた DLL は、OpticStudio のシーケンシャルモードで )複屈折入射]( Birefringent In) 面の分布モードのパラメータを 9 に設定することでロードできます。面のプロパティに追加のドロップダウンリストが表示され、利用可能なDLLから選択できます。DLL を OpticStudio で読み込むためには、Zemaxフォルダ∕DLL∕Birefringence フォルダに配置する必要があります。

コード例として"us_bire.cpp "と "ub_mode5.cpp "の2つのファイルが該当フォルダに用意されています。
2 ライブラリ及びカタログ
1.1 カタログの更新 (すべてのエディション)
Ohara からの最新材料カタログが入手可能
/材質カタログ] (Materials Catalog)
- Ohara の材質カタログが更新されました。
- 溶解頻度と相対コストが更新されました。
3 バグの修正
- ホイヘンスPSF] (Huygens PSF) – マルチコンフィグレーションにおいて、ホイヘンスPSF] (Huygens PSF) が個々のコンフィグレーションからの PSF 結果の合計をインコヒーレントではなくコヒーレントで計算していた問題を修正しました
- 2ホイヘンスPSF] (Huygens PSF) – マルチコンフィグレーションにおいて、aホイヘンスPSF] (Huygens PSF) が波長ウェイトを適切に考慮していなかった問題を修正しました。
- a視野に対する FFT MTF] (FFT MTF vs. Field) – 視野に対する FFT MTF] (FFT MTF vs. Field) 解析で、視野データエディタのピックアップソルブが正しく適用されない問題が修正されました。
- s視野に対する FFT MTF] (FFT MTF vs. Field) – 半径の 最大](maximum) ソルブを使用すると、視野に対する FFT MTF] (FFT MTF vs. Field) 解析の計算でエラーが正しく報告されない問題が修正されました。
- 光線収差] (Ray Aberration) と #光路差図] (Optical Path) – ユーザーによってビネッティングファクタが指定された場合に、光線収差] (Ray Aberration) と r光路差図] (Optical Path) のテキストタブで光線追跡エラーが誤ってレポートされる問題が修正されましたsTM1] 。
- -光源解析] (Light Source Analysis) – t光源解析] (Light Source Analysis) の単位が正しく変換されない問題が修正されました。
- 視野に対する ホイヘンス MTF] (Huygens MTF vs Field) – 4視野に対する ホイヘンス MTF] (Huygens MTF vs Field) 解析で、ユーザーが像のデルタを指定できない問題が修正されました。他のホイヘンスベースの解析と同様に、像のデルタの値を入力できるようになりました。
- 2ブラックボックス面] (Black Box) – 3ブラックボックス面] (Black Box) コンポーネントを持つ光学系の実効 Fナンバー 計算が、ブラックボックスコンポーネントを持たない同等の光学系と比較して、一致するように修正されました。この修正以前このFナンバーの違いは、波面マップ、FFT PSF、および FFT MTF の計算に影響を与える可能性がありました。