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ZOS在进行对镀膜建模的时候是否只能够按照均匀分布的膜层厚度进行计算?

通常 情况下 OpticStudio假设膜层厚度在整个光学表面上是均匀的。但是,由于某些光学膜
层的应用方式不同,光学表面上的膜层厚度可能变化。渐厚膜层是通过应用渐厚函数来定义
的,该函数计算出一个无量纲的系数,然后用该系数乘以 名义膜层厚度 。膜层系中的任何一
层都可以使用渐厚属性,并且每一个膜层都可以有不同的渐厚属性。渐厚的形式可以是径向
多项式、余弦函数或 xy方向的通用 多项式。可以同时使用多种模型,并且渐厚函数 可选择性
地偏心和旋转。

在不同曲率半径的基底上 余弦 渐厚 因子将会产生不同的膜层 。 若要定义厚度以 cos θ 精确变化的膜层 余弦 渐厚 因子 δ0应当为零 余弦 渐厚 因子 δ1应当为 1.0。 当将余弦 渐厚 因
子应用于非序列组件物体中的膜层时,会忽略基底的半径,并将其视为平面。但仍然使用径
向 渐厚 因子和多项式 渐厚 因子。

在没有定义的情况下 OpticStudio使用的所有项都为零。

更多信息可以参考:The Libraries Tab > Coatings Group > Defining Coatings > The TAPR Data Section

 


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