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Trick: TOLR的另类用途-如何添加一个需要先经过优化才能得到的参数作为操作数添加到Merit function editor 中

TOLR的用途TOLR是优化操作数,与公差敏感度分析有关,目的是返回公差敏感度分析的统计结果,并将这个结果加入到优化过程中。但实际上,包含了compensation过程的公差分析其实就是不同扰动条件下的优化过程。所以TOLR也可以用做一些需要事先经过优化才能得到的参数,当作优化操作数来用。TOLR的使用要添加什么在这一部分讨论的TOLR的使用,与公差没有关系,只要用TOLR背后的优化过程,因此会包含自定义公差脚本部分(因为前一个优化和主要的优化所使用的merit function不同),Tolerancing script中的内容是定义如何补偿及优化的。这里主要用到:CLEARCOMP (remove variables) COMP (set veriables) LOADMERIT (choose merit function) OPTIMIZE 案例及比较在Analyze> Prescription Data> General Dataz 中汇报的 back focus length 是paraxial data,没有相应的操作数,这里利用TOLR来返回这一数据。准备:前一个优化要用的评价函数十分简单, 建立并保存 .MF 文件 。第一个操作数是用来评价BFL的计算,目标是使中心视场近轴光线在像面高度为0。第二个操作数用来计算厚度值的。分别保存为 merit1.mf merit2.mf打开Tolerance> TolerancingSet-up> Mode: SensitivityCriterion> Criterion: User Script/ Script: New 新建一个TSC 文件, 并保存 在选好的Tolerancing界面点击SAVE,保存为 TOLR006.TOP, 这个文件名的format必须符合TOLRXXX的形式。 到这里设置已完成可以直接使用, 比较得出返回的值在各个分析中一致

结合Lumerical和Zemax,一起结伴学习Computational Electromagnetics(计算电磁学)吧

好久不见,关注微纳光学的盆友们应该有关注到目前Lumerical+Zemax的联合解决方案,在7/8月份,我们有两场联合的研讨会,大家可以点开以下链接回看研讨会视频:Zemax 和 Lumerical 工作流程第 1 部分 - 从微观到宏观的光学仿真 (ansys.com.cn)Zemax 和 Lumerical 工作流程第 2 部分- 从微观到宏观的光学仿真 (ansys.com.cn)结合Lumerical和Zemax, 针对不同领域涉及到微观和宏观的系统,我们都可以尝试用此联合方案解决您遇到的仿真和设计问题🥂马上在10月份我们即将正式推出Lumerical+Zemax的RCWA动态链接solution,相信无缝串联的solution可以为大家的设计和仿真带来极大的便利,比如在AR衍射光波导的设计,或者手机摄像头花瓣鬼影的仿真等下面这个研讨会,由Zemax RCWA 设计者Michael Cheng 和Lumerical Zheng Zhou带来,详细介绍了这个新功能,大家可以先睹为快,有任何问题也欢迎提问:使用Zemax OpticStudio与Lumerical RCWA动态连结来设计并优化光波导 (ansys.com.cn)当然大家也可以在此网站内搜索关键词,比如RCWA,或者Meta等来获取相关的知识库文章或者资料分享~Connect with your fellow Zemax-ers | Zemax Community最近我们组内在学习讨论计算电磁学,参考的以下内容,深入简出,可学性很高,欢迎大家跟我们一起来学习哦~~当然可以搭配视频资源, 下面链接里是相关的PDF学习资源~https://empossible.net/academics/emp5337/ 欢迎大家加入学习队伍,一起进步哦~~~啊哈,还有个事,9月份Ansys 光学全线产品Lumerical+Zemax+Speos 会参加深圳CIOE光博会,组内专家全员出动,多个technical talk准备中,欢迎大家关注[Ansys光电大本营]公众号,我们会发布CIOE动态我们深圳见~ 

Fizeau干涉仪模拟实例

本文为翻译帖,作者是Kensuke Hiraka。原文链接(含附件):フィゾー干渉計のシミュレーションについて | Zemax Community本节介绍一个Fizeau干涉仪的模拟实例。干涉仪有多种类型,这里介绍的Fizeau干涉仪是一种干涉仪,广泛用于测量光学元件和透射波面的表面精度。 这里我们介绍一个使用Fizeau干涉仪来测量透镜的透射波面变形的例子。以下是被测试的系统。 使用一个有效直径为50毫米、焦距为578毫米的平凸透镜。为了表示不对称的像差,用Zernike条纹相位面来增加像散和慧差像差。 还使用了-0.7的圆锥系数。 平凸透镜会导致大的球差。下图是镜头数据编辑器。 背面的焦点是571.982毫米。以下是光路图。可以使用分析->波前图对波前进行分析。下图展示的是波前图的分析结果。波前PV值 0.3821λ、RMS 0.0881λ。接下来,对Fizeau干涉仪进行建模。 要建立一个含有 "平面光源 "的Fizeau干涉仪模型(即发射准直光),选择 "无焦像空间 "复选框并进入无焦模式,如下图所示。在对 "球面原型 "进行建模时(在这里发出会聚光),请将镜头置于正常焦距模式。镜头数据编辑器如下图所示。 在测试透镜后面放一个凸面镜反射光线,这样光线就会重新进入测试透镜。 应注意以下两点:1. 从测试镜头到凸面镜的距离应该是测试镜头的后焦点(571.982毫米)减去凸面镜的曲率半径(本例中为300毫米)。2.尽可能多地拾取数据,以确保在待测数据发生变化时,回程的数据相应变化。 各种系数也被拾取。模型完成后的光路图如下所示。检查波前像差图。可以看出,波前像差为0.7642λpv和0.1762λRMS,是单透镜的两倍。 也可以看出,不对称像差没有问题(因为往返的光通量通过被测镜头上的同一个地方)。因此,Fizeau干涉仪输出值的1/2是被测透镜本身的波前像差。此外还可以使用下图的干涉图分析功能进行波前分析:放大率被设置为1。 帮助文件指出,对于双通道光学系统,放大率应设置为2,但这是在双通道光学系统被建模为简化的单通道时。 如果像本例中那样对整个双通道进行建模,则应将放大率设为1。

解像力仿真

本文为翻译帖,作者是Ryosuke Niitsu。原文链接:解像力チャートのシミュレーションについて | Zemax Community 本节介绍了一个模拟解像力图表的例子。作为一个例子,我们将使用一个等倍率的光学系统,如下图所示。首先,检查该光学系统的MTF。分辨率图是用黑白的二进制图像创建的。MTF设置如下图所示。解析图使用的是 "方波"。显示的是短波的MTF。在物体高度为-20毫米时检查20个周期/毫米,表明S图像_50% T图像6%。 接下来,对解像力图进行图像模拟。有两种方法可供选择。 (1) 局部相干图像分析。选择分析→扩展光源分析→部分相干图像分析。作为一个假设,需要注意的是,MTF是在20周期/毫米时评估的。在光学行业,一个单色对被算作 "1本"。换句话说,在20周期/毫米时,单色对的宽度是1毫米/20对=0.05毫米。 在这个模拟中,使用了'LINEPAIR.IMD'文件。该文件包含10行对,有10个0.05毫米的黑白对,所以0.05毫米×10=0.5毫米。那么在图像空间中,文件的一侧长度为0.5毫米。 真正的MTF是通过设置显示方法为X-section来计算的。MTF计算结果显示在红色框内的区域, 该值为50%。 (2)图像模拟。这样做的好处是可以在实际图表的图像上进行模拟。许多分辨率图表有多条垂直和水平排列的线。您也可以创建自己想仿真的图像。例如,对于一个纵向和横向都有三条线的图像文件来说我们将在一个文本文件中创建它,如下所示。然后,通过将文件扩展名转换为IMA,该文件可以作为图像文件使用。分析→扩展光源分析→图像模拟。按照以下参数对仿真进行设置,使用自定义的图像文件作为输入文件。输入0.3作为视场的高度。 你所创建的图像文件是12 x 12。因此,线的宽度是输入0.3的1/12,也就是0.025毫米。对于一对线对,0.025 x 2 = 0.05。 仿真的图像如下所示。你可以看到两条水平线(切线图像)。这种现象被称为 "伪像"。用FFTMTF检查时,切向图像为15线/毫米,MTF为0。然而,此后会有百分之几的对比度复现。在这种情况下,对比度可能存在,但黑白图像可能被颠倒。 如果在FFTMTF的设置中将类型改为相位,可以发现,在15线/毫米或更多的情况下,相位转为180°。 

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