2023 R2.02 版本說明
2023年 10月 11日
繁體中文:
1.工具, 特性以及功能
1.1 STAR 模組：直接折射率擬合（支援於旗艦版）
全新針對折射率數據集的直接擬合，擴展 OpticStudio 工作流程的能力。
在 Ansys Zemax OpticStudio 2023 R2.02 版本中，您可以看到多個位於 STAR 選項卡中的工具變化。 部分更改是為了支援新功能，其他措施則強調 Ansys Zemax OpticStudio 旗艦版中 STAR 模組所支援的工作流程類型的增強。
總體來說，更改重心是將使用者介面和幫助檔中的術語從“FEA”更新為“Multiphysics”。 首次引入 STAR 工具時，預期的工作流程是使用者從 Ansys Mechanical 等有限元模擬工具獲取結構形變和熱分析數據集，並將其載入到 OpticStudio 中。 理論上，將所導入的數據稱為 FEA 數據集是正確的術語，因為它準確地描述了我們工具的功能範圍。
但是，在 Ansys Zemax OpticStudio 2023 R2 中，我們增加了使用 ZOS-API 將來自任何工具的折射率數據集直接載入到 OpticStudio 的功能。 這些直接索引擬合功能現在也可在用戶介面中使用。 借助這些功能，我們可以支援超越有限元分析模擬工具的工作流程，例如使用 Ansys Fluent等計算流體動力學 （CFD） 工具。
1.2 PanDao 導出功能提升（支援於所有版本）
通過更加簡便的方式為您的系統確定最優加工鏈路。
匯出至 PanDao 工具現在可以檢索更多與光學零件製造相關的可用資訊。 這包括 LDE 參數（如通光孔徑和厚度）、TDE 資訊（如光焦度、傾斜、偏心）以及不規則度公差和非球面度。 用戶可以選擇系統中要導出的光學器件，日誌資訊將顯示在匯出視窗中。
匯出至 PanDao 工具將支援以下表面類型的軸上系統：
- Standard
- Even Asphere
- Extended Asphere
- Odd Asphere
- Extended Odd Asphere
- Q-type Asphere, type 0
- Q-type Asphere, type 1
同時支援折射與反射表面形式的系統。
1.3 使用者自定義雙折射 DLL（支援於所有版本）
針對梯度雙折射材料，可通過 XYZ 座標使用者自定義晶體光軸函數。
用戶現在可以創建一個 DLL 來定義他們的特徵方程，以描述其雙折射晶體中晶軸的 3D 方向變化，彌補先前 OpticStudio 中內置的8個方程不能完美適用的情況。 此功能的典型用例是液晶透鏡的建模，但此 DLL 介面可用於任何序列模式模型，只要該系統定義存在梯度雙折射的材料，即當晶體軸是 （x， y， z） 位置相關的函數時。
可以通過將OpticStudio序列模式下 Birefringent 表面的梯度模式 （Gradient Mode） 參數設置為9來載入自定義 DLL。 表面屬性功能表中將顯示一個額外的下拉清單，用戶可以在其中從可用的 DLL 中進行選擇。 DLL 必須存放在資料夾：.. \Zemax\DLL\Birefringence in order to be loaded by OpticStudio。
兩個參考檔 「us_bire.cpp」 以及 「ub_mode5.cpp」 已經提供在對應資料夾中作為參考。
2 資料庫與目錄
2.1 材料目錄更新（支援於所有版本）
已載入 Ohara 公司最新的光學材料目錄。
材料：
- Ohara 材料目錄獲取了以下更新：
- 更新了材料庫中的熔煉頻率以及相對成本數據。
3 Bug 修復
- Huygens PSF - 修復了一個問題，該問題導致 Huygens PSF 在多重結構方案中從單個結構中產生相幹而不是非相幹的 PSF 結果總和。
- Huygens PSF - 修復了 Huygens PSF 計算未正確考慮多重結構方案中的波長權重的問題。
- FFT MTF vs. Field - 修復了在 FFT MTF vs. 視場分析中未正確應用視場數據編輯器中的拾取求解的問題。
- FFT MTF vs. Field - 修復了使用最大求解類型可能導致 FFT MTF vs. 視場計算不正確報告錯誤的問題。
- 光線像差以及光程分析 - 修復了以下問題：在使用者指定了漸暈因數的情況下，Ray Fan 和 OPD Fan 的文字選項卡可能會不正確地報告光線追跡錯誤。
- 光源分析 - 修復了光源分析中峰值輻照度單位未正確轉換的問題。
- Huygens MTF vs Field - 修復了 Huygens MTF vs. Field 分析未為使用者提供指定 Image Delta 方法的問題。 現在有一個用戶設置，用於輸入 Image Delta 的值，類似於其他基於 Huygens 的分析。
- 黑盒檔 – 修復了一個問題，以改善與沒有黑盒檔的等效系統相比，具有黑盒文件系統的工作 F/# 計算之間的一致性。 在此修復之前，具有顯著漸暈系統的 F/# 差異可能會對波前圖、 FFT PSF 和 FFT MTF 計算產生影響。
简体中文:
1 工具、特性及功能
1.1 STAR 模块：直接折射率拟合（支持于旗舰版）
全新针对折射率数据集的直接拟合，扩展 OpticStudio 工作流程的能力。
在 Ansys Zemax OpticStudio 2023 R2.02 版本中，您可以看到多个位于 STAR 选项卡中的工具变化。部分更改是为了支持新功能，其他措施则强调 Ansys Zemax OpticStudio 旗舰版中 STAR 模块所支持的工作流程类型的增强。
总体来说，更改重心是将用户界面和帮助文件中的术语从“FEA”更新为“Multiphysics”。首次引入 STAR 工具时，预期的工作流程是用户从 Ansys Mechanical 等有限元仿真工具获取结构形变和热分析数据集，并将其加载到 OpticStudio 中。理论上，将所导入的数据称为 FEA 数据集是正确的术语，因为它准确地描述了我们工具的功能范围。
但是，在 Ansys Zemax OpticStudio 2023 R2 中，我们增加了使用 ZOS-API 将来自任何工具的折射率数据集直接加载到 OpticStudio 的功能。这些直接索引拟合功能现在也可在用户界面中使用。借助这些功能，我们可以支持超越有限元分析仿真工具的工作流程，例如使用 Ansys Fluent等计算流体动力学 (CFD) 工具。
1.2 PanDao 导出功能提升（支持于所有版本）
通过更加简便的方式为您的系统确定最优加工链路。
导出至 PanDao 工具现在可以检索更多与光学零件制造相关的可用信息。这包括 LDE 参数（如通光孔径和厚度）、TDE 信息（如光焦度、倾斜、偏心）以及不规则度公差和非球面度。用户可以选择系统中要导出的光学器件，日志信息将显示在导出窗口中。
导出至 PanDao 工具将支持以下表面类型的轴上系统：
- Standard
- Even Asphere
- Extended Asphere
- Odd Asphere
- Extended Odd Asphere
- Q-type Asphere, type 0
- Q-type Asphere, type 1
同时支持折射与反射表面形式的系统。
1.3 用户自定义双折射 DLL（支持于所有版本）
针对梯度双折射材料，可通过 XYZ 坐标用户自定义晶体光轴函数。
用户现在可以创建一个 DLL 来定义他们的特征方程，以描述其双折射晶体中晶轴的 3D 方向变化，弥补先前 OpticStudio 中内置的8个方程不能完美适用的情况。此功能的典型用例是液晶透镜的建模，但此 DLL 接口可用于任何序列模式模型，只要该系统定义存在梯度双折射的材料，即当晶体轴是 (x, y, z) 位置相关的函数时。
可以通过将 OpticStudio 序列模式下 Birefringent 表面的梯度模式 (Gradient Mode) 参数设置为 9 来加载自定义 DLL。表面属性菜单中将显示一个额外的下拉列表，用户可以在其中从可用的 DLL 中进行选择。DLL 必须存放在文件夹：..\Zemax\DLL\Birefringence in order to be loaded by OpticStudio。
两个参考文件 “us_bire.cpp” 以及 “ub_mode5.cpp” 已经提供在对应文件夹中作为参考。
2 数据库与目录
2.1 材料目录更新（支持于所有版本）
已载入 Ohara 公司最新的光学材料目录。
材料：
- Ohara 材料目录获取了以下更新：
- 更新了材料库中的熔炼频率以及相对成本数据。
3 Bug 修复
- Huygens PSF - 修复了一个问题，该问题导致 Huygens PSF 在多重结构方案中从单个结构中产生相干而不是非相干的 PSF 结果总和。
- Huygens PSF - 修复了 Huygens PSF 计算未正确考虑多重结构方案中的波长权重的问题。
- FFT MTF vs. Field - 修复了在 FFT MTF vs. 视场分析中未正确应用视场数据编辑器中的拾取求解的问题。
- FFT MTF vs. Field - 修复了使用最大求解类型可能导致 FFT MTF vs. 视场计算不正确报告错误的问题。
- 光线像差以及光程分析 - 修复了以下问题：在用户指定了渐晕因子的情况下，Ray Fan 和 OPD Fan 的文本选项卡可能会不正确地报告光线追迹错误。
- 光源分析 - 修复了光源分析中峰值辐照度单位未正确转换的问题。
- Huygens MTF vs Field - 修复了 Huygens MTF vs. Field 分析未为用户提供指定 Image Delta 方法的问题。现在有一个用户设置，用于输入 Image Delta 的值，类似于其他基于 Huygens 的分析。
- 黑盒文件 – 修复了一个问题，以改善与没有黑盒文件的等效系统相比，具有黑盒文件系统的工作 F/# 计算之间的一致性。在此修复之前，具有显著渐晕系统的 F/# 差异可能会对波前图、 FFT PSF 和 FFT MTF 计算产生影响。